FV-pixellence

フラットパネル検査装置

LCD/OLEDなどに代表される平面発光ディスプレイの点灯検査、またはガラス・フィルム・金属などのフラット物のパーティクル検査または傷・汚れ検査など、フラットなワークの表面検査に最適な検査装置です。ファースト独自の画像処理技術を駆使し、低コントラストの点・線欠陥やシミ・ムラ欠陥あるいはパーティクルを検出します。作業者がワークの設置や画面を見ながら操作する半自動型、外部機器からの制御で動作するインライン型、複数台の装置で分散処理を行うマルチプロセス型があります。また1億超までの高分解能エリアカメラ対応機、ラインカメラ対応機、カラーカメラ対応機が選択できます。

 

欠陥強調例

 

欠陥強調例(カラーカメラ対応版)

 

検査項目

● 点（明画素・暗画素）欠陥検出
● 線（明線・暗線）欠陥検出
● シミ・ムラ欠陥検出（ある程度の塊になったもの：上写真を参照）
● パーティクル検出
● 欠陥位置や欠陥サイズ等の計測

 

応用例

● フラットパネルディスプレイの総合欠陥検査に
● LCDやOLEDの輝度ムラ欠陥検査に
● タッチパネルやフィルムのパーティクル検査に
● 有機ELの点灯検査に
● ガラスやフィルムの傷・汚れ検査に
● 金属表面の傷欠陥検査に
● その他平面物のシミ・ムラ欠陥検査に

 

検査例

実際にFV-pixellenceを使った検査例をご紹介します → ここをクリック！

 

標準機能

■ 欠陥検査
白点、黒点、白線、黒線、シミ、ムラ検査
	色空間変換処理(カラーカメラ対応版のみ)	色空間変換(RGB,XYZ,HSV,YIQ,YUV,Lab)、色抽出処理
	前処理	前処理検査エリア抽出、シェーディング補正、コントラスト強調、繰り返しパターン除去
	各欠陥検査処理	フィルター(平均、最大、最小等全20種)、特徴量抽出フィルタ、2値化、2値画像処理、特徴量計算(欠陥座標、面積、濃度、周囲長等)
	結果データ処理	座標変換、OK/NG判定(個数、面積、距離)、データ出力(画面、ファイル)
■ 連続検査
最大16画面(16種類)の連続検査
■ 検査画像解析・補助
Aスコープ、投影、2値化、欠陥位置表示、ヒストグラム、検査エリア表示、画面拡大表示
■ 外部通信
RS232C、DI/DO、LAN ※ソフトウェア対応は一部オプションになります。
■ その他
オペレータ/管理者モード切替、画像ファイルのセーブ/ロード、検査内容のファイル出力、設定内容の印刷、DI/DOチェック画面

 

※標準版(STANDARD)、ラインセンサカメラ対応版(LIN)、カラーカメラ対応版